金融界2024年11月30日音讯，国家知识产权局信息数据显现，成都华微电子科技股份有限公司请求一项名为“一种依据低成本FPGA的芯片DFT测验办法及体系”的专利，公开号CN 119044741 A，请求日期为2024年8月。
专利摘要显现，本发明供给一种依据低成本FPGA的芯片DFT测验办法，触及集成电路测验技术领域，其主要过程为：开机或切换测验脚本ATP文件；上位机对FPGA板卡内部状态机寄存器复位；上位机对测验脚本ATP文件解析，FPGA板卡接纳Pattern并在本地存储器中打开；FPGA板卡依据Pattern对被测芯片设备做测验，收集被测芯片设备的输出信号；FPGA板卡本地存储器中记载的收集条目传给上位机，上位机收到收集条目并写入输出文件；完毕DFT测验。本发明还供给了一种依据低成本FPGA的芯片DFT检测体系。本发明把测验模板文件的调试由产线机台设备转为低成本FPGA板卡，然后缩短了芯片研发到批量之间的转产时刻。
